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广皓天可程式恒温恒湿试验箱4000l图1广皓天可程式恒温恒湿试验箱4000l图2

广皓天可程式恒温恒湿试验箱4000l

2025-08-09 18:342960询价
价格:¥85000.00/台
品牌:广皓天
型号:THC-4000PF
温度范围:-40℃→150℃
温度均匀度:≤2℃ (空载时)
起订:1台
供应:30台
发货:15天内
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广皓天可程式恒温恒湿试验箱4000l


试验目的

验证手机芯片在极端温度环境下的长期工作稳定性物理结构可靠性,评估:

  • 材料热膨胀系数(CTE)差异导致的应力失效

  • 温度循环对焊点、封装层间连接的疲劳损伤

  • 芯片电气性能(如功耗、频率、信号完整性)的温漂特性

  • 是否符合JESD22-A104(温度循环)及AEC-Q100(车规芯片)等标准




实验设备条件

核心设备:高低温试验箱

  • 温控范围:-65℃ ~ +175℃(覆盖手机存储/工作极限温度)

  • 变温速率:≥15℃/分钟(模拟快速环境变化)

  • 温度均匀性:±2℃(箱体内9点监测)

配套系统

  • 在线测试板(DUT Board)
    • 集成电源管理模块、信号发生器、高速数据采集卡
    • 支持芯片供电、时钟信号输入及功能测试(如跑分软件、误码率测试)

  • 实时监测
    • 温湿度传感器(紧贴芯片表面)
    • 四线法电阻测量(监控焊点微裂纹)
    • 电流/电压波形记录(捕捉功耗异常)

广皓天可程式恒温恒湿试验箱4000l




性能指标

温度范围

A:0~150 B:-20~150 C:-40~150℃   D:-60~150

湿度范围

20~98% RH

波动/均匀度

≤±0.5 /±2

温度偏差

+2%-3%R?H

升温时间

-20~10035min -40~10045min -70~10055min

降温时间

25~4055min 25~6065min 25~7080min









满足标准:

GB11158 高温试验箱技术条件

GB10589-89 低温试验箱技术条件

GB10592-89 高低温试验箱技术条件

GB/T10586-89 湿热试验箱技术条件

GB/T2423.1-2008 低温试验箱试验方法

GB/T2423.2-2008 高温试验箱试验方法

GB/T2423.3-2006 湿热试验箱试验方法

GB/T2423.4-2008 交变湿热试验方法

GB/T2423.22-2002 温度变化试验方法

IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法

IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法

GJB150.3 高温试验

GJB150.4 低温试验

GJB150.9 湿热试验



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